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平面镜多次反射的二维高精度小角度偏转测量

来源:光电工程  作者: 邓立新 谭吉春 范清春 杨建坤 郭辉 戴穗安

  

  0 引 言

  角度测量是计量科学的重要组成部分,随着生产和科学的不断发展,角度测量越来越广泛地应用于机械、光学、航空、航天、航海等各个领域,技术水平和测量准确度也不断提高。国内外许多部门和研究机构相继研制出各种测角仪器,以满足各种需要[1-2]。对物体的小角度偏转进行高精度的连续和自动测量是角度测量中的一个重要方面,在现实生活中有着强烈的应用需求[3],如航天飞行器中有效载荷与基准的连接支臂在飞行过程中由于重力、太阳照射、机械振动等因素的影响,支臂会发生微小的形变,从而在有效载荷相对于基准的指向上产生小角度偏转,影响有效载荷的工作性能。而通过对该小角度偏转进行高精度的连续和自动测量可有效修正该影响。

  非接触式的光学二维小角度精密测试技术,具有较高的准确度和测量分辨力,在航天、航空和国防技术中具有广泛的应用前景[4-5]。本文介绍利用半导体激光器作为光源,利用激光光束在平面镜系统中的多次反射实现探测光斑位移变化的放大,构建实现二维小角度偏转检测的实验系统。

  1 平面镜系统多次反射测角原理

平面镜多次反射的二维高精度小角度偏转测量

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标签:责任编辑:bbcad  时间:2020-07-22  点击:

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