三坐标平面度的测量---请教

请教各位：
三坐标在测量平面度时，输出的结果是怎样计算出来的，和粗糙度有什么关系和区别？和传统的检测方法结果又有多大的不同？

一般说来，有两种获取数据的方法，单个打点获得若干关键位置的点，如远点与区域内比例点，详情可见具体工艺要求或者国家标准对于平面度判定要求的取点原则。一般取３到４个点即可。另一个是扫描的方法，获得高密度的点集。

如果是高密度数据，则数据的分析处理一般按照下面的思路。第一步，滤波，滤波分两种情况，滤去平面波度变化的影响(可以通过设定截止波长或者截止频率)和滤去评价长度上的个别坏点（可以通过＋/-3sigma变差筛选），滤波的目的是去除假点或者坏点，这些工作一般在编制程序时，从程序中选择即可，无需自己编写代码。第二步，分析滤波后的数据，可以通过计算最小二乘平面，或者其它包容平面来计算平面度。第三步，输出分析图形或者平面度数值。

如果是低密度数据，可以参照国标中分析数据的方法，如：三远点建立基准平面，第４点到上述平面的距离即为平面度。等等。

又学到了不少知识.
楼上的兄台,能介绍一下最小二乘法吗?像用最小二乘法如何计算圆的,等等.
谢谢了!!

手动采点，4点能够真实反映出平面度吗，单个打点可不可以采多个点？

这完全取决于你的平面度的公差要求。显然4个点应该是不够的。3点确定一个平面。4个点平面度几乎接近于0，没有多大意义。应多采几点，建议10个点以上。最好机床自动测量，探测方向沿着工件的法向方向，测量准确度较高。
平面度是比粗糙度更宏观的概念。也就是说平面度是微米量级的，而表面粗糙度是更微观的概念。
三座标在测量平面度时，用测量点以最小二乘拟合一个平面，包容所有测量点的两个平行平面间的距离为平面度。这两个平行平面平行于拟合的最小二乘平面。
最小二乘法的原理是，所有测量点距离拟合元素（平面、支线、圆、圆柱）的距离的平方和最小。
Ei=1-n（（Xi-XO)^2+(Yi-YO)^2-R^2）为最小。公式较复杂，自己推导吧。

测量机测量出的平面度，与传统的方法检测出来的结果怎样来比较？还有就是在平面度不好的情况下，两个平面之间的尺寸是怎样反映出来的，是不是用AVG，MIN，MAX，来综合体现？

2楼一剑和5楼的feifei2003 说的已经很清楚了。
搂主所说传统的方法，是不是拿个表座放在被测平面上（被测件较大）推表的方法啊。
如果是这样，传统的就是你所说的平均值、最小值、最大值。
二者的算法不仅不一样，适用场合不同。测量机所采用的应该是接近理论的。
传统的是满足现场使用。严格来讲应该采用测量机采点评定的方法。
而且，平面度采点评定方法也不只最小二乘法一种，还有最小包容区域法、对角线平面法、三远点平面法。以前和一剑交流过类似问题，一剑是高手我就不弄斧了。呵呵。

测量机采点受粗糙度影响较大，虽然说，测量机采用的是理论的，但是，实际使用时并不一定适合，

为什么说测量机采点受粗糙度的影响？难道你的平面度的公差只有0.001mm？如果要测得准，采点密度必须大。

比如说，粗糙度12.5与0.8的结果会相同吗？是不是，在探针的选择上有什么要求？